XRF, numunedeki farklı atomlardan yayılan floresans dalgalarının dalga boyunu ve yoğunluğunu ölçen ve bunun sonucunda maddi elementlerin türünü ve miktarını belirleyen bir cihazdır. XRF cihazı birçok bilim dalında yaygın olarak kullanılmaktadır ve günümüzde bu alanda yaşanan büyük ilerlemeler nedeniyle araştırma laboratuvarlarının vazgeçilmez araçlarından biri haline gelmiştir. XRF, çok yüksek bir çalışma hızıyla birçok unsuru niteliksel ve niceliksel olarak analiz edebilmektedir. Yüksek hızı ve kimyasal madde kullanılmaması nedeniyle diğer analitik yöntemlere göre ucuz bir yöntemdir ve çevreyi kirletmez.
XRF analiz yönteminin özellikleri ve özellikleri
Elementlerin tanımlanması sürecindeki yüksek hızı nedeniyle XRF, farklı merkezlerde yaygın olarak kullanılmaktadır. Bu yöntem aynı zamanda hassastır ve tahribatsızdır. Bu yöntemin avantajı numune hazırlamanın basitliği ve çok elementli yapısıdır. Bu yöntemin özellikleri arasında şunlar sayılabilir.
▪️Elementlerin niceliksel ve niteliksel olarak ölçülebilmesi
▪️Birden fazla numuneyi aynı anda analiz edebilmesi (polikromatör)
▪️Elemanların tanımlanması nadir elementler Toprak
▪️ ppm seviyesine kadar oksijenden ağır elementlerin tespiti
XRF cihazının ilkeleri nelerdir?
XRF analizinde X-ışınları bir kaynak tarafından üretilir ve numuneye yayılır. Çoğu durumda kaynak bir X-ışını tüpüdür, ancak bazen kaynak olarak bir sinkrotron veya radyoaktif malzeme kullanılır. X-ışını örneğindeki elementler, her elemente ve onun özelliklerinin bir kısmına özgü olan ayrı enerjili (ışık biçiminde) floresans yayar.
Farklı enerji, farklı renge eşittir. Numuneden yayılan ışınların enerjisi ölçülerek (renk ölçümü) numunede hangi elementlerin bulunduğunu belirlemek mümkündür. Bu aşamaya niteliksel analiz aşaması denir. Bir sonraki adımda, yayılan enerjinin (renklerin) şiddeti ölçülerek numunedeki her bir elementin miktarı belirlenebilir. Bu adıma niceliksel analiz denir.